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新品TL1304出廠前,通過系列可靠性測試和驗證,品質經受考驗

香港天微近日推出一款超低電阻與快速上升時間單通道負載開關晶片—TL1304。該產品在量產出廠前已通過高低溫環境測試和時間測試,工程批也已驗證通過。

時間測試

(VIN=1.05V;VON=VBIAS=3.3V;TA=25℃;RL=10Ω;CL=0.1uF)

CH1:VON   CH2:VOUT

新品TL1304出廠前,通過系列可靠性測試和驗證,品質經受考驗

Time (20μs/div)

TD+TR=17.5μs


CH1:VON   CH2:VOUT

新品TL1304出廠前,通過系列可靠性測試和驗證,品質經受考驗

Time (50μs/div)

TOFF=2.4μs


CH1:VON   CH2:VOUT

新品TL1304出廠前,通過系列可靠性測試和驗證,品質經受考驗

Time (20μs/div)

 TF=1.91μs


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